詳細摘要： SCD-1500型半導體C-V特性分析儀創(chuàng)新性地采用了雙CPU架構、Linux底層系統(tǒng)、10.1英寸電容式觸摸屏、中英文操作界面、內置使用說明及幫助等新一代技術...
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北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司
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詳細摘要： SCD-1500型半導體C-V特性分析儀創(chuàng)新性地采用了雙CPU架構、Linux底層系統(tǒng)、10.1英寸電容式觸摸屏、中英文操作界面、內置使用說明及幫助等新一代技術...
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詳細摘要： JYJC-3型絕緣及抗靜電材料電阻率及表面電阻測試儀是一款針專門用于絕緣及抗靜電材料電阻率及表面電阻測試裝置，采用環(huán)形三電極測試可以勝任于防靜電產(chǎn)品(防靜電鞋、...
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詳細摘要： 晶圓是指硅半導體集成電路制作所用的硅晶片，其形狀為圓形；晶圓高溫測試是集成電路行業(yè)一道重要制程，通過嚴格的高溫測試可以預先剔除不良芯片，降低后續(xù)高昂的封裝成本。...
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詳細摘要： GDWT-480型全自動型高低溫真空探針臺主要應用于I-V/C-V，PIV測試,傳感器，半導體，光電，集成電路以及封裝的測試。 廣泛應用于復雜、高速器件的精密電...
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